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第二代石英晶体微天平 Q-Sense E4适用于任何能形成薄膜的表面如金属、高分子、化学改性表面等。
联系电话:021-60480748
第二代石英晶体微天平 Q-Sense E4产品特点:
1、质量测定:测试表面形成的分子层的质量,精度达到毫微克。例如,可检测到1%或更低浓度蛋白质单分子层的结构变化。
2、结构变化:同步测试结构变化,因此可以区分两个相似的键合反应或观察到吸附层上发生的相转变。
3、实时分析:可以进行实时记录和动力学评估。
4、无须标记:无须对分子做标记,仪器测定的是分子本身。
5、柔性的表面选择:适用于任何能形成薄膜的表面如金属、高分子、化学改性表面等。
6、流量测试:特别设计的样品池可以在控温环境下进行流量测定。
第二代石英晶体微天平 Q-Sense E4技术参数:
传感器数量 | 4个,也可使用1、2、3个 |
传感器上方体积 | -40ul,采用5MHz晶体,Q-Sense流动模块 |
最小样品体积 | -200ul |
工作温度 | 15-65°C(可选项:4-150°C),由软件控制; 控温精度为:0.02°C |
流动速率 | 0-1 ml/min |
清洁 | 所有与液体接触元件均可拆卸,并可在超声波浴中清洗 |
传感器晶体 | 5MHz,直径14mm,抛光,金电极 |
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